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一個帶有 Signetics 標志的 8 針 555 定時器。它沒有 555 標簽,而是標有“52B 01003”和 7304 日期代碼,表示 1973 年的第 4 周。
乏味地打磨環氧樹脂封裝以露出芯片(下圖),并確定芯片是 555 定時器。Signetics 在 1972 年年中發布了 555 定時器,下面的芯片有一個 1973 年 1 月的日期代碼(7304),所以它一定是極早的 555 定時器之一。奇怪的是,它沒有標為 555,所以它可能是原型或內部版本。
我拍攝了詳細的模具照片,在這篇博文中進行了討論。
555 定時器的封裝被打磨,露出硅芯片,中間的小方塊。
顯示 555 定時器如何作為振蕩器工作的圖表。在 555 定時器的控制下,外部電容器通過外部電阻器進行充電和放電。
如上,555 計時器的模具照片。
芯片上不同類型的硅更難看到。芯片的區域用雜質處理(摻雜)以改變硅的電特性。N 型硅具有過量的電子(負),而 P 型硅缺乏電子(正)。在照片中,這些區域顯示為略有不同的顏色,周圍有細黑色邊框。這些區域是芯片的組成部分,形成晶體管和電阻器。在windows中,保存的時候先另存在桌面,再拖進去覆蓋即可!
晶體管是芯片中的關鍵元件。555 定時器使用 NPN 和 PNP 雙極晶體管。如果您研究過電子學,您可能已經看過如下圖所示的 NPN 晶體管圖,顯示了晶體管的集電極 (C)、基極 (B) 和發射極 (E),晶體管被圖示為P硅夾在兩個對稱的N硅層之間,NPN 層構成 NPN 晶體管。事實證明,芯片上的晶體管看起來不像這樣,而且基極通常甚至不在中間!
如上,NPN 晶體管的原理圖符號,以及其內部結構的簡化圖。
下面的照片顯示了 555 中的一個晶體管的特寫,因為它出現在芯片上。硅中稍有不同的色調表明已摻雜形成 N 和 P 區域的區域。白色的區域是硅頂部芯片的金屬層 - 這些形成連接到集電極、發射極和基極的導線。
如上圖,裸片上 NPN 晶體管的結構。
照片下方是一個橫截面圖,說明了晶體管的構造方式。除了你在書中看到的 NPN 之外,還有很多其他東西,但如果你仔細觀察“E”下方的垂直橫截面,你會發現形成晶體管的 NPN。發射極 (E) 線連接到 N+ 硅。其下方是連接到基極觸點 (B) 的 P 層。在其下方是(間接)連接到收集器(C)的 N+ 層。6 晶體管被 P+ 環包圍,將其與相鄰組件隔離。
在IC內部的PNP晶體管:
如上圖,555定時器芯片中的PNP晶體管。標注了集電極(C)、發射極(E)和基極(B)的連接,以及N和P摻雜硅。基極圍繞發射極形成一個環,集電極圍繞基極形成一個環。
555中的輸出晶體管比其他晶體管大得多,并且具有不同的結構,以產生高電流輸出。下面的照片顯示了輸出晶體管之一。注意被大集電極包圍的發射極和基極的多個互鎖“手指”。
如上,555定時器內部的電阻。電阻器是兩個金屬觸點之間的一條 P 硅。
上面的照片顯示了 555 中的一個 10KΩ 電阻器,它由一條 P 硅(粉灰色)形成,在兩端與金屬線接觸。其他金屬線穿過電阻器。電阻器具有螺旋形狀,以使其長度適合可用空間。下面的電阻是一個 100KΩ 的夾點電阻。夾層電阻器頂部的 N 硅層使導電區域更薄(即夾住它),形成更高但不太準確的電阻。
555定時器內部的收縮電阻器。電阻器是兩個金屬觸點之間的一條P硅。頂部的N層夾住電阻,增加電阻。垂直金屬線穿過該電阻器。
如上圖,電流源的原理圖符號。
以下電路顯示了如何用兩個相同的晶體管實現電流鏡。參考電流流經右側的晶體管。(在這種情況下,電流由電阻設定。)由于兩個晶體管具有相同的發射極電壓和基極電壓,它們產生相同的電流,因此右邊的電流與左邊的參考電流相匹配。
如上,電流鏡電路,右邊的電流復制左邊的電流。
電流鏡的一個常見用途是替換電阻器。如前所述,IC 內部的電阻器既大又不準確,不便之處。盡可能使用電流鏡而不是電阻器來節省空間。此外,與兩個電阻器產生的電流不同,電流鏡產生的電流幾乎相同。
如上圖,三個晶體管在555定時器芯片中形成一個電流鏡。它們共用同一個基極,兩個晶體管共用發射極。
上述三個晶體管構成一個具有兩個輸出的電流鏡。注意,三個晶體管共享基極連接,連接到右邊的集電極,右邊的發射極連接在一起。在原理圖中,右側的兩個晶體管被繪制為單個雙集電極晶體管Q19。
如上,簡單差分對電路原理圖。電流源通過差分對發送固定電流I。如果兩個輸入相等,則電流均分。
上面的示意圖顯示了一個簡單的差分對。底部的電流源提供固定電流 I,該電流在兩個輸入晶體管之間分配。如果輸入電壓相等,則電流將平均分成兩個分支(I1 和 I2)。如果其中一個輸入電壓比另一個高一點,則相應的晶體管會以指數方式傳導更多的電流,因此一個分支獲得更多電流,而另一個分支獲得更少。一個小的輸入差異足以將大部分電流引導到“獲勝”分支,從而打開或關閉比較器。555 芯片使用一個差分對作為閾值比較器,另一對作為觸發比較器。